Menu
Mon panier

En cours de chargement...

Recherche avancée

Transient Floating-Body Effects for Memory Applications in Fully-Depleted SOI MOSFETs (Broché)

Maryline Bawedin

  • Presses Universitaires Louvain

  • Paru le : 01/01/2007
Memory devices based on floating-body effects (FBE) in Silicon-on-Insulator (SOI) technology are among the most promising candidates for sub-100nm and... > Lire la suite
  • Plus d'un million de livres disponibles
  • Retrait gratuit en magasin
  • Livraison à domicile sous 24h/48h*
    * si livre disponible en stock, livraison payante
15,00 €
Expédié sous 8 à 17 jours
  • ou
    À retirer gratuitement en magasin U
    entre le 12 juin et le 19 juin
Memory devices based on floating-body effects (FBE) in Silicon-on-Insulator (SOI) technology are among the most promising candidates for sub-100nm and low power Dynamic Random Access Memory (DRAM). This new type of DRAMs, called Zero-Capacitor RAM (Z-RAM)

Fiche technique

  • Date de parution : 01/01/2007
  • Editeur : Presses Universitaires Louvain
  • Collection : Thèses de l'UCL
  • ISBN : 978-2-87463-088-0
  • EAN : 9782874630880
  • Présentation : Broché
  • Nb. de pages : 168 pages
  • Poids : 0.278 Kg
  • Dimensions : 16,0 cm × 24,0 cm × 1,0 cm

À propos de l'auteur

Biographie de Maryline Bawedin

Maryline Bawedin was born in Rocourt, Belgium, in 1976. She received the Industrial Engineer degree from the Institut Gramme, Liège, the Electrical Master degree and the Ph.D degree from the Université Catholique de Louvain, Louvain-la-Neuve, Belgium, in 2001, 2002 and 2007, respectively. Her main research areas are the electrical characterization, modeling and simulation of the floating-body effects for SOI memories applications and DC performance of thin film SOI LDMOSFETs.

Transient Floating-Body Effects for Memory Applications in Fully-Depleted SOI MOSFETs est également présent dans les rayons

Maryline Bawedin - Transient Floating-Body Effects for Memory Applications in Fully-Depleted SOI MOSFETs.
Transient Floating-Body Effects for Memory Applications in Fully-Depleted...
Maryline Bawedin
15,00 €
Haut de page