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Caracterisation Et Nettoyage Du Silicium. Caracterisation Physico-Chimique Et Nettoyage Par Voie Humide (Relié)

Annie Baudrant

Collectif

  • Hermes Science Publications

  • Paru le : 01/01/2003
Depuis la réalisation du premier circuit intégré il y a plus de quarante ans, les étapes de fabrication en micro-électronique sont restées les mêmes.... > Lire la suite
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Depuis la réalisation du premier circuit intégré il y a plus de quarante ans, les étapes de fabrication en micro-électronique sont restées les mêmes. Les procédés ont cependant considérablement évolué, dans l'objectif de diminuer toutes les dimensions, pour intégrer toujours plus. Des techniques nouvelles et complexes se cachent aujourd'hui derrière un procédé de fabrication. Le présent ouvrage passe en revue l'ensemble des étapes élémentaires : nettoyage, dépôt métallique, dépôt de couche diélectrique, oxydation, dopage, gravure, lithographie.
Sont également présentées les techniques de caractérisation, indispensables pour juger de la qualité des procédés. Chaque étape fait l'objet d'un chapitre : le procédé, les équipements et la physique des techniques y sont détaillés.

Fiche technique

  • Date de parution : 01/01/2003
  • Editeur : Hermes Science Publications
  • Collection : EGEM
  • ISBN : 2-7462-0605-6
  • EAN : 9782746206052
  • Présentation : Relié
  • Nb. de pages : 218 pages
  • Poids : 0.505 Kg
  • Dimensions : 16,0 cm × 24,0 cm × 1,3 cm
Annie Baudrant - Caracterisation Et Nettoyage Du Silicium. Caracterisation Physico-Chimique Et Nettoyage Par Voie Humide.
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