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Wayne B. Nelson - Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis.

Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis

Wayne B. Nelson

  • Wiley

  • Paru le : 01/01/2004
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Fiche technique

  • Date de parution : 01/01/2004
  • Editeur : Wiley
  • ISBN : 0-471-69736-2
  • EAN : 9780471697367

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