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Joseph Goldstein - Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Relié)

3rd edition

Joseph Goldstein

Springer
Paru le : 01/01/2003

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Fiche technique

Fiche technique

Date de parution : 01/01/2003
Editeur : Springer
ISBN : 0-306-47292-9
EAN : 9780306472923
Présentation : Relié
Poids : 1.68 Kg

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