Apparemment, javascript est désactivé sur votre navigateur.

Javascript doit être activé dans votre navigateur pour utiliser toutes les fonctionnalités de ce site.

›

En cours de chargement...

Recherche avancée

Peter-W Hawkes - Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics.

Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics (Relié)

Edition en anglais

Peter-W Hawkes

Academic press
Paru le : 01/10/2008

Plus d'un million de livres disponibles
Retrait gratuit en magasin
Livraison à domicile sous 24h/48h*
* si livre disponible en stock, livraison payante

257,00 €

Actuellement indisponible

ou

Fiche technique

Fiche technique

Date de parution : 01/10/2008
Editeur : Academic press
ISBN : 978-0-12-374220-9
EAN : 9780123742209
Présentation : Relié
Nb. de pages : 600 pages
Poids : 1.06 Kg
Dimensions : 15,7 cm × 23,5 cm × 3,2 cm

Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics est également présent dans les rayons

Peter-W Hawkes - Aberration-corrected Microscopy - Volume 153, Advances in Imaging and Electron Physics.

Aberration-corrected Microscopy. Volume 153, Advances in Imaging...

Peter-W Hawkes

257,00 €

Haut de page